晶體應(yīng)力雙折射儀
用儀器途：
應(yīng)力儀是用來檢查透明物體內(nèi)應(yīng)力大小和分布狀況的儀器。不僅在光學(xué)玻璃、光學(xué)儀器、玻璃制品、塑料制品等工業(yè)得到廣泛應(yīng)用，而且在建材、燈具、制藥、飲料、工藝品安全防爆指標(biāo)的檢驗(yàn)方面也占有重要地位，在水晶飾品制作、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)領(lǐng)域也有不少應(yīng)用。同時(shí),本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。

產(chǎn)品型號(hào)：WYL-4

更新時(shí)間：2024-02-13

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晶體應(yīng)力雙折射儀型號(hào)：WYL-4

晶體應(yīng)力雙折射儀

儀器簡(jiǎn)介：
透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對(duì)樣品的光程差的定量測(cè)定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能精確測(cè)定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級(jí)別,是光學(xué)儀器制造業(yè)的儀器，也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。

儀器特點(diǎn)：

★ 直讀納米級(jí)光程差，無須計(jì)算。
★ 雙分視場(chǎng)零位檢測(cè)，靈敏度高。
★ 樣品工作臺(tái)45度自動(dòng)定位。
★ 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍。
★ 操作方便,可靠實(shí)。

技術(shù) 參數(shù)	技術(shù)指標(biāo)
儀器	WYL-4應(yīng)力雙折射儀
單色光波長(zhǎng)	589.44nm
光程差測(cè) 定范圍	± 590 nm
度盤格值	5nm
Z小讀數(shù)(1/5估讀)	1nm
儀器零位誤差	±2nm
波片讀數(shù)重復(fù)性	1nm
光源	220V 20W低壓鈉燈
被檢樣品Z大尺寸	寬度440mm；長(zhǎng)度440mm；高度240 mm
儀器尺寸（mm）	413 ×250 ×400